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X射線分析方法

X射線分析方法

定 價:¥68.00

作 者: 巫瑞智,王振強(qiáng)
出版社: 科學(xué)出版社
叢編項(xiàng):
標(biāo) 簽: 暫缺

ISBN: 9787030776976 出版時間: 2025-01-01 包裝: 平裝
開本: 16開 頁數(shù): 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡介

  本書介紹X射線物理學(xué)基礎(chǔ)、X射線衍射方向和衍射強(qiáng)度、多晶體X射線衍射分析等基本理論知識,在此基礎(chǔ)上介紹當(dāng)前科學(xué)研究中經(jīng)常使用的各種X射線技術(shù),包括利用X射線衍射技術(shù)分析材料的物相、殘余應(yīng)力、晶粒尺寸、位錯密度、織構(gòu)等,以及利用X射線光電子能譜分析材料表面元素種類、含量。此外,本書還介紹了近年來基于電子計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)發(fā)展起來的三維X射線顯微鏡分析方法。

作者簡介

  俄羅斯科學(xué)院外籍院士,兼任中國材料研究學(xué)會鎂合金分會理事、中國鎂合金青年委員會主任。

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