SoC設(shè)計高級教程：技術(shù)實現(xiàn)

定　價：￥128.00

作　者：	張慶
出版社：	電子工業(yè)出版社
叢編項：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787121492501	出版時間：	2025-01-01	包裝：	平塑
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內(nèi)容簡介

　　《SoC設(shè)計高級教程——技術(shù)實現(xiàn)》是結(jié)合多年的工程實踐、培訓(xùn)、以及累積的資料，并借鑒國內(nèi)外經(jīng)典教材、文獻、專業(yè)網(wǎng)站文檔等編著而成。本書全面介紹了SoC芯片的主要構(gòu)成和設(shè)計環(huán)節(jié)，加強了SoC系統(tǒng)、架構(gòu)和集成的介紹，特別介紹了近年來出現(xiàn)的一些SoC設(shè)計新概念、新技術(shù)、新領(lǐng)域和新方法。全書分8章，首先介紹了SoC芯片的的基礎(chǔ)設(shè)計，包括電源管理、時鐘和復(fù)位管理、低功耗設(shè)計技術(shù)。然后介紹了SoC設(shè)計的重要環(huán)節(jié)，包括時序分析和簽核、SoC驗證、SoC可測性設(shè)計。最后部分分別介紹了兩個SoC設(shè)計專題，即虛擬化和安全設(shè)計。書后有2個附錄，一個是專業(yè)術(shù)語的中英文對照，另1個則是設(shè)計術(shù)語索引。有關(guān)SoC設(shè)計的基本概念和方法，已在《SoC設(shè)計基本教程》中介紹，建議讀者先行閱讀。

作者簡介

　　張慶，博士，早年于東南大學(xué)任教，后赴美留學(xué)并在Broadcom（博通）等國際著名公司從事SoC芯片研發(fā)工作，回國后任中興微電子等公司的SoC團隊和項目負責(zé)人。是最早將國外先進的SoC芯片設(shè)計理念引入國內(nèi)的專家之一，在設(shè)計流程和方法學(xué)、芯片架構(gòu)、芯片集成等領(lǐng)域，有著豐富的設(shè)計經(jīng)驗，以及流片和大規(guī)模量產(chǎn)經(jīng)驗，培養(yǎng)了一大批優(yōu)秀的SoC設(shè)計和管理人才。

圖書目錄

第1章　電源管理 1
1.1　穩(wěn)壓器 1
1.1.1 線性穩(wěn)壓器 2
1.1.2 開關(guān)穩(wěn)壓器 7
1.1.3 電源監(jiān)測與保護 13
1.2　電源管理設(shè)計 18
1.2.1 電源管理器件 18
1.2.2 電源管理電路設(shè)計 19
1.2.3 芯片電源供應(yīng) 25
1.3　電源分配網(wǎng)絡(luò) 28
1.3.1 電源分配網(wǎng)絡(luò)的構(gòu)成 28
1.3.2 電源分配網(wǎng)絡(luò)的特性 35
1.4　電源完整性 37
1.4.1 電壓波動及影響 37
1.4.2 電源阻抗 39
1.4.3 去耦電路 41
1.4.4 分層解耦 50
1.4.5 片上電源分配網(wǎng)絡(luò)的電源完整性 53
小結(jié) 55
第2章　時鐘和復(fù)位管理 57
2.1　SoC時鐘管理 57
2.1.1 時鐘抖動 59
2.1.2 PLL 63
2.1.3 SoC時鐘架構(gòu)設(shè)計 75
2.2　SoC復(fù)位管理 83
2.2.1 復(fù)位源 83
2.2.2 復(fù)位類型 86
2.2.3 SoC復(fù)位架構(gòu)設(shè)計 87
2.2.4 復(fù)位域跨越 91
2.3　時鐘和復(fù)位模塊設(shè)計 95
小結(jié) 99
第3章　低功耗設(shè)計方法 100
3.1　系統(tǒng)級低功耗設(shè)計 101
3.1.1 評估芯片功耗 101
3.1.2 功耗管理 102
3.2　算法及架構(gòu)級低功耗設(shè)計 103
3.2.1 算法級低功耗設(shè)計 103
3.2.2 架構(gòu)級低功耗設(shè)計之一 105
3.2.3 架構(gòu)級低功耗設(shè)計之二 107
3.3　寄存器傳輸級低功耗設(shè)計 115
3.4　綜合中的低功耗設(shè)計 124
3.5　物理級低功耗設(shè)計 127
3.5.1 工藝選擇 127
3.5.2 門級功耗優(yōu)化 129
3.5.3 物理級功耗優(yōu)化 131
小結(jié) 136
第4章　時序分析與簽核 137
4.1　偏差與時序影響因素 137
4.1.1 偏差 137
4.1.2 工藝角 140
4.1.3 環(huán)境角 142
4.1.4 片上變化 143
4.1.5 串?dāng)_ 144
4.1.6 IR壓降 147
4.2　靜態(tài)時序分析 148
4.2.1 時序路徑分析模式 148
4.2.2 時序分析模式 151
4.3　基于變化感知的時序分析 156
4.3.1 AOCV 158
4.3.2 SOCV/POCV 160
4.4　芯片級設(shè)計約束 163
4.4.1 扁平式芯片級設(shè)計約束 163
4.4.2 模塊級時序模型 167
4.4.3 裕量 170
4.5　時序簽核 173
4.5.1 場景 173
4.5.2 信號完整性分析 178
4.5.3 電源完整性和功耗分析 182
4.5.4 時序收斂 186
4.5.5 ECO 193
小結(jié) 198
第5章　驗證 200
5.1　SoC驗證 201
5.1.1 驗證方法 201
5.1.2 驗證流程 204
5.1.3 驗證計劃 206
5.1.4 驗證平臺 209
5.1.5 驗證層次 211
5.1.6 驗證質(zhì)量管控 211
5.2　IP和模塊級驗證 214
5.2.1 IP驗證 214
5.2.2 模塊級驗證 216
5.3　系統(tǒng)級驗證 219
5.4　門級驗證 221
5.4.1 門級仿真的作用 228
5.4.2 不定態(tài)產(chǎn)生、傳播和抑制 231
5.4.3 門級仿真方法 236
5.4.4 門級混合仿真 243
5.5　DFT驗證 246
5.6　低功耗驗證 251
5.6.1 電源意圖規(guī)范驗證 251
5.6.2 低功耗形式驗證 252
5.6.3 低功耗仿真 253
5.7　ATE測試的仿真向量 256
5.8　通用驗證方法學(xué) 259
5.8.1 驗證技術(shù)的發(fā)展歷程 260
5.8.2 UVM組件 261
5.8.3 UVM常用類的派生與繼承 262
5.8.4 UVM驗證平臺運行機制 263
5.8.5 UVM結(jié)構(gòu)與通信 265
小結(jié) 267
第6章　可測性設(shè)計 269
6.1　SoC測試 269
6.1.1 SoC測試方法與結(jié)構(gòu) 269
6.1.2 SoC的DFT技術(shù) 274
6.2　掃描測試 274
6.2.1 嵌入式確定性測試 276
6.2.2 模塊級掃描設(shè)計 285
6.3　內(nèi)建自測試 288
6.3.1 MBIST電路 289
6.3.2 模塊級MBIST設(shè)計 293
6.4　IP測試 297
6.4.1 IP的直接測試 297
6.4.2 基于IEEE標(biāo)準的IP測試 298
6.4.3 高速和數(shù)?；旌想娐窚y試 302
6.4.4 先進DFT技術(shù) 306
6.5　SoC的DFT和實現(xiàn) 311
6.5.1 測試目標(biāo)和策略 311
6.5.2 DFT技術(shù)應(yīng)用 313
6.5.3 測試模式下的時鐘設(shè)計 314
6.5.4 模塊級DFT設(shè)計和實現(xiàn) 325
6.5.5 芯片級DFT設(shè)計和實現(xiàn) 328
小結(jié) 342
第7章　虛擬化設(shè)計 344
7.1　虛擬化 344
7.1.1 虛擬化技術(shù)基礎(chǔ) 344
7.1.2 虛擬化技術(shù) 349
7.2　內(nèi)存虛擬化 352
7.2.1 虛擬內(nèi)存 352
7.2.2 處理器訪問內(nèi)存 353
7.2.3 設(shè)備訪問內(nèi)存 355
小結(jié) 361
第8章　安全設(shè)計 362
8.1　SoC安全設(shè)計 363
8.1.1 安全解決方案 363
8.1.2 TEE 364
8.1.3 信任根 365
8.1.4 安全啟動 371
8.1.5 安全調(diào)試 374
8.1.6 安全島 375
8.2　ARM TrustZone 376
8.2.1 處理器的安全設(shè)計 378
8.2.2 總線隔離機制 380
8.2.3 內(nèi)存和外設(shè)隔離機制 381
8.3　RISC-V安全擴展 383
8.3.1 處理器的安全設(shè)計 383
8.3.2 隔離機制 384
小結(jié) 386