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復合薄膜功能層憶阻器特性研究

復合薄膜功能層憶阻器特性研究

定 價:¥49.00

作 者: 孫艷梅
出版社: 黑龍江大學出版社
叢編項:
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ISBN: 9787568609234 出版時間: 2024-01-01 包裝: 平裝-膠訂
開本: 16開 頁數(shù): 字數(shù):  

內(nèi)容簡介

  本書對近年來微電子、信息、材料、物理等領域共同關注的憶阻器進行了介紹,主要闡述了復合薄膜功能層憶阻器的阻變轉換特性。全書共分9章。第1章為緒論,介紹了憶阻器的研究背景與意義,憶阻器的發(fā)展趨勢和目前研究存在的問題。第2章介紹了憶阻器的制備與阻變轉換機制。第3章介紹了聚乙烯咔唑復合薄膜憶阻器的阻變轉換特性。第4章對功能層為聚氨酯復合薄膜功能層的憶阻特性進行了闡述。第5章對聚乙烯苯酚與不同含量惡二唑復合功能層憶阻器的特性進行了介紹。第6章是聚乙撐二氧噻吩:聚苯乙烯磺酸鹽與碳納米管復合薄膜的憶阻特性。第7章對甲基丙烯酸環(huán)氧樹脂與碳納米管復合薄膜的憶阻特性進行了分析。第8章將Co-Al LDHs吸附環(huán)嗪酮的薄膜作為憶阻器的功能層,對吸附環(huán)嗪酮前后的憶阻特性進行了對比分析。第9章闡述了阿特拉津吸附量對Co-Al LDHs憶阻特性的影響。本書適合微電子、材料、物理、化學等領域從事半導體存儲技術研究和教學的科研人員、工程技術人員、大學教師、研究生、本科生閱讀和參考。

作者簡介

  孫艷梅,吉林省前郭人,黑龍江大學電子工程學院電子科學技術系,副教授,主要研究方向為基于復合納米薄膜憶阻器及晶體管的制備及其在信息存儲方面的應用,近年來在相關領域發(fā)表SCI學術論文30余篇。

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