材料測(cè)試技術(shù)與分析方法（第3版）

定　價(jià)：￥69.00

作　者：	暫缺
出版社：	哈爾濱工業(yè)大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787576709193	出版時(shí)間：	2023-08-01	包裝：	平裝
開本：		頁(yè)數(shù)：	427	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書介紹了材料測(cè)試儀器的組成、基本原理、樣品的制備、測(cè)試步驟和數(shù)據(jù)分析。全書共分19章，依次為掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡、X射線光電子能譜、俄歇電子能譜、拉曼光譜、掃描隧道電子顯微鏡、原子力顯微鏡、X射線衍射分析、紅外吸收光譜、紫外-可見分光光度法和紫外漫反射光譜、分子熒光光譜法、X射線熒光光譜、核磁共振波譜法、電子順磁共振、質(zhì)譜分析法、熱分析技術(shù)、等離子體發(fā)射光譜、電化學(xué)分析方法和聯(lián)用測(cè)試技術(shù)與分析方法。在編撰過程中，以培養(yǎng)學(xué)生獨(dú)立分析問題和解決問題的能力為重心，盡量簡(jiǎn)化理論深度，突出實(shí)用性。本書內(nèi)容全面、實(shí)用性和系統(tǒng)性強(qiáng)，既可作為高校材料科學(xué)與工程、化學(xué)和化工類等專業(yè)高年級(jí)本科生與研究生的教材，也可作為從事材料科學(xué)研究與分析測(cè)試的工程技術(shù)人員的參考書。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《材料測(cè)試技術(shù)與分析方法（第3版）》作者簡(jiǎn)介

圖書目錄

第1章掃描電子顯微鏡
1.1 簡(jiǎn)介
1.2 掃描電子顯微鏡的系統(tǒng)組成
1.3 樣品的制備
1.4 掃描電子顯微鏡的基本原理與分析方法
1.5 掃描電子顯微鏡分析示例
1.6 掃描電子顯微鏡技術(shù)的發(fā)展
習(xí)題
知識(shí)鏈接
第2章透射電子顯微鏡
2.1 簡(jiǎn)介
2.2 TEM的系統(tǒng)組成及工作原理
2.3 樣品的制備技術(shù)(復(fù)型技術(shù))
2.4 應(yīng)用實(shí)例
2.5 高分辨透射電子顯微鏡簡(jiǎn)介與應(yīng)用
習(xí)題
知識(shí)鏈接
第3章 X射線光電子能譜
3.1 簡(jiǎn)介
3.2 XPS系統(tǒng)組成
3.3 XPS的基本原理
3.4 樣品的制備
3.5 XPS的功能
3.6 XPS的應(yīng)用與實(shí)例解析
習(xí)題
知識(shí)鏈接
第4章俄歇電子能譜
4.1 簡(jiǎn)介
4.2 系統(tǒng)組成
4.3 工作基本原理
4.4 樣品的制備
4.5 測(cè)試方法
4.6 AES分析方法與應(yīng)用實(shí)例習(xí)題
知識(shí)鏈接
第5章拉曼光譜
5.1 簡(jiǎn)介
5.2 系統(tǒng)組成
5.3 工作原理
5.4 樣品的制備
5.5 測(cè)試方法
5.6 分析方法與應(yīng)用實(shí)例
習(xí)題
知識(shí)鏈接
第6章掃描隧道電子顯微鏡
6.1 簡(jiǎn)介
6.2 系統(tǒng)組成
6.3 基本原理
6.4 測(cè)試方法
6.5 應(yīng)用實(shí)例
習(xí)題