光學測量手冊

　　本書涵蓋了光學測量技術的方方面面，包括光學測量技術的發(fā)展機遇與挑戰(zhàn)、傳統(tǒng)光學測量技術以及對未來光學測量技術的展望。首先概述光電測量技術；然后分別針對大尺寸零件、中等尺寸零件以及微小尺寸零件的測量介紹相應的激光跟蹤技術、位移干涉測量技術、相移技術、便攜式測量技術以及基于干涉的顯微技術、基于聚焦的光學測量技術；最后，介紹先進光學顯微測量技術及其應用。本書可作為從事光學測量技術工程師的入門書，也可作為光學工程專業(yè)的本科生、研究生和教師的參考書。由于本書中的各個章節(jié)之間相對獨立，針對特定知識的閱讀，只需要閱讀相應的章節(jié)即可。

　　凱文·哈?。↘evin Harding）是紐約尼斯卡尤納通用電氣研究公司（GE Re-search）的首席科學家。他在科學技術研究和開發(fā)中心（R & D）擔任光學測量工作的領導，為光學技術項目提供指導。在加入通用電氣公司之前，他在工業(yè)技術研究所擔任了14年的光電實驗室主任，建立了光電業(yè)務，參與了200多個項目，開發(fā)出一批（六種）商業(yè)產(chǎn)品。他在光學技術領域工作了25余年，并發(fā)起和主持了技術會議及講習班，包括在機器視覺光學和照明方向講授課程15年。因其在3D測量技術方面的專長而獲得國際認可，他的工作也得到了許多組織的認可。他曾于1989年獲得制造工程師學會（SME）杰出青年工程師獎、1990年獲得底特律工程學會（ESD）公共服務電子化領導獎、1994年獲得自動化成像協(xié)會領導獎和1997年獲得SME Eli Whitney生產(chǎn)力獎。哈丁發(fā)表技術論文120余篇，面向工業(yè)界和學術界講授短期課程、輔導課程，以及光學測量視頻課程60余門，為6本專著撰寫了部分章節(jié)，獲發(fā)明專利55余項。哈丁曾擔任協(xié)會主席、社會委員會主席和會議主席20余年，與國際光學和光子學學會（SPIE）、美國激光研究所（LIA）、ESD、SME和美國光學學會（OSA）長期合作，曾任2008年SPIE的主席，目前是SPIE的研究員。