集成電路開發(fā)及應(yīng)用

　　本書緊隨集成電路技術(shù)領(lǐng)域的**發(fā)展趨勢，貼合應(yīng)用電子技術(shù)、微電子技術(shù)、電子信息工程技術(shù)等電子信息類專業(yè)群核心技能要求，以“集成電路開發(fā)及應(yīng)用”為主線，緊扣集成電路職業(yè)崗位典型工作任務(wù)，圍繞集成電路前端設(shè)計(jì)、晶圓測試、集成電路終測、集成電路應(yīng)用等綜合技能，以項(xiàng)目化的方式搭建了完整的實(shí)操環(huán)境。本書以全國職業(yè)院校技能大賽“集成電路開發(fā)及應(yīng)用”賽項(xiàng)為切入點(diǎn)，結(jié)合技能大賽競賽資源，圍繞賽項(xiàng)競賽平臺，結(jié)合賽項(xiàng)考察知識與技能點(diǎn)，分別從集成電路設(shè)計(jì)、集成電路測試、集成電路應(yīng)用等方面開發(fā)實(shí)際賽項(xiàng)案例。全書由數(shù)字集成電路前端設(shè)計(jì)及仿真、晶圓測試、數(shù)字集成電路測試、模擬集成電路測試、集成電路工業(yè)級測試、集成電路應(yīng)用六個項(xiàng)目組成，涵蓋了“集成電路開發(fā)及應(yīng)用”主要核心內(nèi)容。其中，晶圓測試項(xiàng)目通過軟件仿真的方式真實(shí)展現(xiàn)了工業(yè)現(xiàn)場晶圓測試的工作流程，數(shù)字集成電路測試和模擬集成電路測試項(xiàng)目由淺入深介紹了集成電路終測環(huán)節(jié)參數(shù)測試的實(shí)施方法和測試程序樣例。本書還展示了集成電路終測的工業(yè)級測試流程，在強(qiáng)化集成電路及其相關(guān)專業(yè)核心技能與核心知識點(diǎn)的同時，搭建與企業(yè)崗位對接的橋梁，不僅提升了學(xué)生自主創(chuàng)新能力、動手能力、協(xié)作能力和職業(yè)素養(yǎng)，同時提高了學(xué)生的就業(yè)質(zhì)量和就業(yè)水平。本書以“集成電路開發(fā)及應(yīng)用”為主線，以任務(wù)目標(biāo)為導(dǎo)向，在項(xiàng)目實(shí)施的逐級推進(jìn)中融入了相關(guān)知識點(diǎn)的學(xué)習(xí)方法和教學(xué)實(shí)施技巧，內(nèi)容精煉，實(shí)操性強(qiáng)，易于教學(xué)實(shí)施。本書可作為高職高專相關(guān)實(shí)踐環(huán)節(jié)教學(xué)用書，也可作為“集成電路開發(fā)及應(yīng)用”實(shí)踐技能培訓(xùn)教材，還可作為集成電路行業(yè)工程技術(shù)人員的入門參考書。

暫缺《集成電路開發(fā)及應(yīng)用》作者簡介