集成電路測試指南

定　價：￥99.00

作　者：	加速科技編
出版社：	機械工業(yè)出版社
叢編項：
標　簽：	暫缺

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ISBN：	9787111683926	出版時間：	2021-06-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	257	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　《集成電路測試指南》將半導體集成電路測試原理與實際測試實現(xiàn)過程相結合，內(nèi)容涵蓋半導體集成電路測試流程，測試原理以及集成運算放大器、電源管理芯片、電可擦除編程只讀存儲器芯片、微控制器芯片、數(shù)模轉換芯片等產(chǎn)品的測試實例。《集成電路測試指南》的特點是理論與實踐相結合，避免了“紙上談兵”。通過學習《集成電路測試指南》，讀者可以對集成電路測試有一個全面的認識，從而快速進入半導體集成電路測試工程領域。《集成電路測試指南》的主要讀者是即將從事集成電路測試工作的工程師和大學或職業(yè)教育領域相關專業(yè)的學生。

作者簡介

　　加速科技，以FPGA設計、高速通信技術、高性能數(shù)字信號處理技術、高精度模擬技術為基礎，將相關技術應用于半導體測試領域，是業(yè)界領先的數(shù)?；旌闲盘枩y試設備提供商。公司推出國內(nèi)**自主研發(fā)的250Mbps及以上高性能數(shù)?；旌闲盘枩y試系統(tǒng)解決方案，實現(xiàn)了國產(chǎn)替代，推動國產(chǎn)數(shù)字測試系統(tǒng)邁上新臺階，助力中國芯。加速科技團隊是一支年輕、富有激情的團隊，具有扎實的技術功底。團隊成員秉承以客戶為本的宗旨，以成就客戶為己任，力圖在半導體測試領域為中國芯片事業(yè)貢獻力量。

圖書目錄

序一
序二
序三
前言
第一篇集成電路測試及測試系統(tǒng)簡介
第1章集成電路測試簡介
1．1 集成電路測試的分類
1．1．1 集成電路測試分類
1．1．2 CP測試流程及設備
1．1．3 FT測試流程及設備
1．2 IC測試項目
1．3 產(chǎn)品手冊與測試計劃
1．3．1 產(chǎn)品手冊
1．3．2 測試計劃
1．4 測試程序
1．4．1 測試程序的分類
1．4．2 量產(chǎn)測試程序的流程
1．4．3 分類篩選
第2章集成電路測試系統(tǒng)
2．1 模擬IC測試系統(tǒng)
2．2 數(shù)字IC測試系統(tǒng)
2．2．1 數(shù)字測試系統(tǒng)的組成
2．2．2 PMU的原理與參數(shù)設置
2．2．3 引腳電路的組成和原理
2．3 混合IC測試系統(tǒng)
2．3．1 模擬子系統(tǒng)與數(shù)字子系統(tǒng)
2．3．2 測試同步
2．4 ST2500高性能數(shù)模混合測試系統(tǒng)
2．4．1 ST2500硬件資源
2．4．2 環(huán)境要求
2．5 ST-IDE軟件系統(tǒng)
2．5．1 ST-IDE軟件界面
2．5．2 基于ST-IDE的測試程序開發(fā)流程
2．5．3 工廠界面
2．6 集成電路測試工程師實訓平臺
2．6．1 實驗產(chǎn)品
2．6．2 教學實驗板的使用
第二篇集成電路基本測試原理
第3章直流及參數(shù)測試
3．1 開短路測試
3．1．1 開短路測試的目的和原理
3．1．2 開短路測試的方法
3．1．3 開短路的串行與并行測試
3．2 漏電流測試
3．2．1 漏電流測試的目的
3．2．2 漏電流測試方法
3．2．3 漏電流測試的串行與并行
3．3 電源電流測試
3．3．1 電源電流測試的目的
3．3．2 IDD測試方法
3．4 直流偏置與增益測試
3．4．1 輸入偏置電壓測試
3．4．2 輸出偏置電壓
3．4．3 增益測試
3．5 輸出穩(wěn)壓測試
3．6 數(shù)字電路輸入電平與輸出電平測試
3．6．1 輸入電平（VILIVIH）測試
3．6．2 輸出高電平（VOHIIOH）測試
3．6．3 輸出低電平（VOLIIOL）測試
3．6．4 輸出電平的功能測試方法
第4章數(shù)字電路功能及交流參數(shù)測試
4．1 測試向量
4．2 時序的設定
4．2．1 時序的基本概念
4．2．2 定義時序與波形格式
4．3 引腳電平的設定
4．4 動態(tài)負載測量開短路
第5章混合信號測試基礎
……
第三篇模擬集成電路測試與實踐
第四篇數(shù)字集成電路測試與實踐
第五篇混合集成電路測試與實踐
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