低功率、高分辨率的A-D轉(zhuǎn)換器

定　價(jià)：￥79.00

作　者：	阿米爾·齊亞約（Amir Zjajo），何塞·皮內(nèi)達(dá) 著；宋婷婷譯
出版社：	機(jī)械工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：	國際信息工程先進(jìn)技術(shù)譯叢
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787111589037	出版時(shí)間：	2018-03-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	232	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　在本書中，作者概述了這些創(chuàng)新的有價(jià)值的例子，并給人們機(jī)會(huì)看到它們?cè)趹?yīng)用于高分辨率模-數(shù)（A-D）轉(zhuǎn)換器（ADC）開發(fā)時(shí)的優(yōu)勢(shì)。更具體地，讀者可以發(fā)現(xiàn)本書的主要貢獻(xiàn)在于：使用時(shí)間交織的信號(hào)處理和校準(zhǔn)的多步A-D轉(zhuǎn)換器的設(shè)計(jì)、用于這些轉(zhuǎn)換器的完全可觀測(cè)性和可控性的DfT（可測(cè)性設(shè)計(jì)）技術(shù)的提出和實(shí)現(xiàn)、可以識(shí)別過程參數(shù)變化的傳感器網(wǎng)絡(luò)的方法與設(shè)計(jì)、使用小型樣本來估計(jì)過程變化的算法的建議以及用于晶片級(jí)測(cè)試的測(cè)試模式生成器的開發(fā)。

作者簡介

　　阿米爾？齊亞約（Amir Zjajo）和何塞？皮內(nèi)達(dá)？德杰韋茲（ José Pineda de Gyvez）都是飛利浦研究實(shí)驗(yàn)室以及恩智浦半導(dǎo)體公司研究所和大學(xué)機(jī)構(gòu)在低功耗設(shè)計(jì)和測(cè)試領(lǐng)域的知名研究人員，他們的書和期刊出版物目前是深亞微米技術(shù)領(lǐng)域中理解、設(shè)計(jì)、測(cè)試和調(diào)試的不可或缺的參考。

圖書目錄

譯者序
原書序
縮略語表
物理量符號(hào)
第1章緒論1
1.1 A-D轉(zhuǎn)換系統(tǒng)1
1.2淺談當(dāng)前的設(shè)計(jì)與調(diào)試實(shí)踐分析4
1.3動(dòng)機(jī)7
1.4本書內(nèi)容組成8
第2章 A-D轉(zhuǎn)換9
2.1高速、高分辨率A-D轉(zhuǎn)換器架構(gòu)選擇9
2.1.1多步A-D轉(zhuǎn)換器9
2.1.2管線A-D轉(zhuǎn)換器10
2.1.3并行管線A-D轉(zhuǎn)換器12
2.1.4 A-D轉(zhuǎn)換器實(shí)現(xiàn)比較13
2.2低壓A-D轉(zhuǎn)換器設(shè)計(jì)注釋16
2.3 A-D轉(zhuǎn)換器模塊21
2.3.1 S/H21
2.3.2運(yùn)算放大器24
2.3.3鎖存比較器27
2.4 A-D轉(zhuǎn)換器：總結(jié)31
第3章多步A-D轉(zhuǎn)換器的設(shè)計(jì)33
3.1多步A-D轉(zhuǎn)換器架構(gòu)33
3.2非理想多步A-D轉(zhuǎn)換器的設(shè)計(jì)注意事項(xiàng)36
3.3時(shí)間交錯(cuò)的前端S/H電路39
3.3.1時(shí)間交錯(cuò)架構(gòu)40
3.3.2 S/H單元的匹配44
3.3.3電路設(shè)計(jì)49
3.4多步A-D轉(zhuǎn)換器級(jí)設(shè)計(jì)53
3.4.1粗略量化53
3.4.2精細(xì)量化58
3.5中間級(jí)設(shè)計(jì)和校準(zhǔn)67
3.5.1子D-A轉(zhuǎn)換器設(shè)計(jì)67
3.5.2殘差放大器69
3.6實(shí)驗(yàn)結(jié)果76
3.7小結(jié)80
第4章多步A-D轉(zhuǎn)換器的測(cè)試82
4.1準(zhǔn)靜態(tài)結(jié)構(gòu)試驗(yàn)的模擬ATPG82
4.1.1測(cè)試策略定義83
4.1.2基于準(zhǔn)靜態(tài)節(jié)點(diǎn)電壓法的線性故障模型84
4.1.3決策標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)試刺激優(yōu)化92
4.2可測(cè)性概念的設(shè)計(jì)98
4.2.1功率掃描鏈DfT100
4.2.2應(yīng)用實(shí)例105
4.3用于BIST的片上激勵(lì)的產(chǎn)生113
4.3.1連續(xù)和離散時(shí)間電路拓?fù)?14
4.3.2連續(xù)和離散時(shí)間波形發(fā)生器的設(shè)計(jì)123
4.4內(nèi)置自測(cè)概念的注釋131
4.5深亞微米CMOS工藝的隨機(jī)分析可靠電路設(shè)計(jì)136
4.5.1用于過程變異性分析的隨機(jī)MNA136
4.5.2噪聲分析的隨機(jī)MNA138
4.5.3應(yīng)用示例140
4.6小結(jié)144
第5章多步A-D轉(zhuǎn)換器的調(diào)試146
5.1傳感器網(wǎng)絡(luò)概念146
5.1.1觀察策略147
5.1.2集成傳感器149
5.1.3決策窗口和應(yīng)用限制152
5.1.4 DLPM電路設(shè)計(jì)155
5.1.5溫度傳感器160
5.2模板級(jí)過程變化的估計(jì)163
5.2.1預(yù)期最大化算法163
5.2.2向量機(jī)限制估計(jì)器166
5.3多步A-D轉(zhuǎn)換器級(jí)的調(diào)試168
5.3.1質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)168
5.3.2估算方法169
5.4 DfT用于多步轉(zhuǎn)換器的完全可訪問性173
5.4.1測(cè)試控制塊177
5.4.2模擬測(cè)試控制塊178
5.5時(shí)間交織系統(tǒng)的調(diào)試180
5.6前景校準(zhǔn)184
5.7實(shí)驗(yàn)結(jié)果187
5.7.1 A-D測(cè)試窗口生成/更新的結(jié)果應(yīng)用191
5.7.2 A-D轉(zhuǎn)換器調(diào)試和校準(zhǔn)的結(jié)果應(yīng)用195
5.8小結(jié)202
第6章結(jié)論和建議203
6.1結(jié)果概述203
6.2推薦和未來研究204
附錄 205
附錄A 205
A.1時(shí)間不匹配205
A.2偏移不匹配206
A.3增益不匹配207
A.4帶寬不匹配207
A.5一般表達(dá)式208
附錄B 208
B.1使用正弦波的A-D轉(zhuǎn)換器非線性的直方圖測(cè)量208
B.2均方誤差210
B.3測(cè)量不確定性211
參考文獻(xiàn)213