納米力學(xué)測試新方法：掃描探針聲學(xué)顯微術(shù)

　　本書從AFAM的力學(xué)基礎(chǔ)－接觸力學(xué)出發(fā)，闡述了AFAM的原理和基礎(chǔ)、準確度和靈敏度、粘彈性成像，以及AFAM的廣泛應(yīng)用。此外，還對正在興起的多頻原子力顯微術(shù)進行了介紹。本書的內(nèi)容安排如下：*章緒論簡要介紹當前主要的納米力學(xué)測試方法，以及AFAM的發(fā)展歷史和研究現(xiàn)狀。第二章首先對接觸力學(xué)的基本理論進行介紹，隨后介紹納米壓痕技術(shù)的測試原理和應(yīng)用。第三章詳細介紹原子力顯微鏡的基本原理和應(yīng)用模式。第四章詳細介紹AFAM的基本理論，定量化原理及兩種基本成像模式。第五章給出了AFAM在測試和成像過程中涉及到的準確度和靈敏度問題，是對AFAM的深入研究。第六章介紹基于AFAM的材料粘彈性力學(xué)性能測試方法的原理及應(yīng)用。第七章介紹AFAM在納米科學(xué)技術(shù)各個領(lǐng)域的應(yīng)用，主要涉及復(fù)合材料、智能材料和生物材料的微結(jié)構(gòu)和微區(qū)彈性性質(zhì)。第八章將介紹目前正在興起的另一種納米測試技術(shù)-多頻原子力顯微成像技術(shù)。

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