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分析化學手冊9B:無機質譜分析(第三版)

分析化學手冊9B:無機質譜分析(第三版)

定 價:¥128.00

作 者: 趙墨田
出版社: 化學工業(yè)出版社
叢編項:
標 簽: 暫缺

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ISBN: 9787122272911 出版時間: 2016-10-01 包裝:
開本: 16開 頁數: 586 字數:  

內容簡介

  《分析化學手冊》第三版在第二版的基礎上作了較大幅度的增補和刪減,保持原手冊10個分冊的基礎上,將其中3個分冊進行拆分,擴充為了6冊,終形成13冊。 《無機質譜分析》是其中一個分冊,共分四篇包括總論、同位素質譜分析、元素質譜分析、輔助技術。首先概括性介紹無機質譜的發(fā)展歷史、背景、質譜種類,根據質譜方法和研究對象的異同劃分,分兩篇對每種方法進行介紹,包括方法概述、儀器、基本原理、方法特點,通過具體的實例闡釋實驗步驟,分析結果計算。 本書適合化學、礦產、地質、核分析科學與技術相關領域的研究人員和技術人員學習與查閱。

作者簡介

  主編趙墨田,中國計量科學院研究員,我國無機質譜和同位素質譜專家,曾任《質譜學報》副主編,多次獲得國家辦法的、省部級頒發(fā)的發(fā)明獎和科技進步獎。享受政府專家津貼。其他參編人員大都是活躍在無機質譜和同位素質譜領域的專家和學術骨干。

圖書目錄

第一篇 總  論
第一章 導論 2
第一節(jié) 質譜學發(fā)展簡史 2
一、質譜儀器 2
二、同位素質譜法 4
三、無機質譜法 5
第二節(jié) 名詞、術語 6
一、基礎名詞、術語 6
二、儀器相關名詞、術語 10
三、方法相關名詞、術語 11
第三節(jié) 相關基本常數和單位制 15
一、基本物理常數 15
二、國際單位制的相關基本單位和導出單位 15
三、相關的單位換算 16
第四節(jié) 獲取信息的主要途徑 16
一、學術機構 16
二、期刊 17
參考文獻 18
第二章 質譜儀器 21
第一節(jié) 質譜儀器的基本結構和分類 21
一、質譜儀器的基本結構 21
二、質譜儀器的分類 21
第二節(jié) 進樣系統(tǒng) 22
一、直接進樣系統(tǒng) 22
二、間接進樣系統(tǒng) 22
第三節(jié) 離子源 22
一、電子轟擊型離子源 22
二、離子轟擊型離子源 23
三、原子轟擊型離子源 25
四、放電型離子源 26
五、熱電離離子源 27
六、電感耦合等離子體離子源 28
七、其他類型的電離技術 29
第四節(jié) 質量分析器 30
一、磁式質量分析器 30
二、雙聚焦質量分析器 31
三、飛行時間質量分析器 31
四、四極濾質器 33
五、離子阱質量分析器 34
六、傅里葉變換離子回旋共振質量分析器 34
第五節(jié) 離子檢測及數據處理 35
一、法拉第杯檢測器 35
二、電子倍增器 35
三、其他類型的離子檢測裝置 37
四、數據處理 38
第六節(jié) 真空系統(tǒng) 40
一、質譜儀器的真空要求 41
二、真空的獲得及真空測量 41
三、各種真空組件 42
第七節(jié) 質譜儀器的主要技術指標 43
一、質量范圍 43
二、分辨本領 43
三、靈敏度 44
四、豐度靈敏度 44
五、精密度和準確度 44
參考文獻 45

第二篇 同位素質譜分析
第三章 氣體穩(wěn)定同位素質譜法 48
第一節(jié) 氣體穩(wěn)定同位素質譜概述 48
一、進樣系統(tǒng) 48
二、離子源 49
三、質量分析器 50
四、檢測系統(tǒng) 50
第二節(jié) 樣品制備技術 50
一、水中氫同位素制備技術 50
二、碳同位素制備技術 53
三、氮同位素制備技術 59
四、氧同位素制備技術 63
五、硫同位素制備技術 72
第三節(jié) 穩(wěn)定同位素質譜分析法 74
一、穩(wěn)定同位素的表示方法、標準及其分析流程 74
二、質譜分析數據計算 76
三、穩(wěn)定同位素質譜分析誤差 87
參考文獻 88
第四章 熱電離質譜法 90
第一節(jié) 熱電離質譜法原理 90
一、熱電離 90
二、離子束聚焦、拉出 93
三、質量分離 94
四、離子檢測 94
第二節(jié) 熱電離質譜儀 95
一、離子源 95
二、質量分離器 97
三、離子檢測器 97
四、附屬設備 102
第三節(jié) 試驗方法 102
一、測量前的工作程序 102
二、測量方法 111
三、測量結果的表達 113
四、影響準確測量的主要因素 115
五、方法的主要特點 120
第四節(jié) 熱電離質譜法的應用 120
一、堿金屬、堿土金屬元素同位素測量 121
二、過渡元素測量 122
三、稀土元素測量(原子量測量) 123
四、錒系元素測量 126
五、硼、氯、溴、氧、氮等非金屬元素同位素測量 129
參考文獻 132
第五章 加速器質譜法 134
第一節(jié) 加速器質譜方法原理與特點 134
第二節(jié) AMS分析裝置 135
一、離子源與注入器 136
二、加速器 137
三、高能分析器 138
四、離子探測器 139
五、基于其他加速器的AMS裝置 139
第三節(jié) 加速器質譜測量過程與定量分析方法 140
一、測量過程 140
二、定量分析方法 140
三、測量實例 140
四、一些主要核素的測量情況 143
五、AMS測量極限與限制 143
第四節(jié) 加速器質譜應用研究 144
一、14C 144
二、36Cl 145
三、10Be 145
四、129I 146
五、41Ca 146
六、其他核素 147

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