電子元器件檢測(cè)與代換一看就會(huì)

第1章 萬(wàn)用表的功能特點(diǎn)和使用方法（P1）
1．1 萬(wàn)用表的功能特點(diǎn)（P1）
1．1．1 指針萬(wàn)用表的功能特點(diǎn)（P1）
1．1．2 數(shù)字萬(wàn)用表的功能特點(diǎn)（P6）
1．2 萬(wàn)用表的使用方法（P11）
1．2．1 指針萬(wàn)用表的使用方法（P11）
1．2．2 數(shù)字萬(wàn)用表的使用方法（P13）

第2章 電阻器的種類、特點(diǎn)與檢測(cè)代換方法（P19）
2．1 電阻器的功能特點(diǎn)與參數(shù)識(shí)別（P19）
2．1．1 電阻器的功能特點(diǎn)（P19）
2．1．2 電阻器的參數(shù)識(shí)別（P21）
2．2 常見的電阻器（P26）
2．2．1 普通電阻器（P26）
2．2．2 敏感電阻器（P29）
2．2．3 可調(diào)電阻器（P34）
2．3 電阻器的檢測(cè)與代換（P36）
2．3．1 普通色環(huán)電阻器的檢測(cè)方法（P36）
2．3．2 光敏電阻器的檢測(cè)方法（P38）
2．3．3 熱敏電阻器的檢測(cè)方法（P40）
2．3．4 濕敏電阻器的檢測(cè)方法（P41）
2．3．5 氣敏電阻器的檢測(cè)方法（P43）
2．3．6 壓敏電阻器的檢測(cè)方法（P45）
2．3．7 可調(diào)電阻器的檢測(cè)方法（P46）
2．3．8 電阻器的代換方法（P48）
第3章 電容器的種類、特點(diǎn)與檢測(cè)代換方法（P52）
3．1 電容器的功能特點(diǎn)與參數(shù)識(shí)別（P52）
3．1．1 電容器的功能特點(diǎn)（P52）
3．1．2 電容器的參數(shù)識(shí)別（P54）
3．2 常見的電容器（P59）
3．2．1 普通電容器（P59）
3．2．2 電解電容器（P62）
3．2．3 可變電容器（P64）
3．3 電容器的檢測(cè)與代換（P67）
3．3．1 普通電容器的檢測(cè)方法（P67）
3．3．2 電解電容器的檢測(cè)方法（P68）
3．3．3 電容器的代換方法（P72）
第4章 電感器的種類、特點(diǎn)與檢測(cè)代換方法（P74）
4．1 電感器的功能特點(diǎn)與參數(shù)識(shí)別（P74）
4．1．1 電感器的功能特點(diǎn)（P74）
4．1．2 電感器的參數(shù)識(shí)別（P77）
4．2 常見的電感器（P82）
4．2．1 色環(huán)電感器（P82）
4．2．2 色碼電感器（P82）
4．2．3 電感線圈（P83）
4．2．4 貼片電感器（P85）
4．2．5 微調(diào)電感器（P85）
4．3 電感器的檢測(cè)與代換（P86）
4．3．1 色環(huán)電感器的檢測(cè)方法（P86）
4．3．2 色碼電感器的檢測(cè)方法（P87）
4．3．3 電感線圈的檢測(cè)方法（P88）
4．3．4 貼片電感器的檢測(cè)方法（P90）
4．3．5 電感器的代換方法（P90）
第5章 二極管的種類、特點(diǎn)與檢測(cè)代換方法（P92）
5．1 二極管的功能特點(diǎn)與參數(shù)識(shí)別（P92）
5．1．1 二極管的功能特點(diǎn)（P92）
5．1．2 二極管的參數(shù)識(shí)別（P94）
5．2 常見的二極管（P97）
5．2．1 整流二極管（P97）
5．2．2 穩(wěn)壓二極管（P99）
5．2．3 發(fā)光二極管（P100）
5．2．4 光敏二極管（P101）
5．2．5 檢波二極管（P102）
5．2．6 變?nèi)荻O管（P103）
5．2．7 雙向觸發(fā)二極管（P104）
5．2．8 開關(guān)二極管（P105）
5．2．9 快恢復(fù)二極管（P105）
5．3 二極管的檢測(cè)與代換（P106）
5．3．1 二極管引腳極性的檢測(cè)判別方法（P106）
5．3．2 二極管制作材料的檢測(cè)判別方法（P107）
5．3．3 整流二極管的檢測(cè)方法（P107）
5．3．4 穩(wěn)壓二極管的檢測(cè)方法（P108）
5．3．5 發(fā)光二極管的檢測(cè)方法（P109）
5．3．6 光敏二極管的檢測(cè)方法（P111）
5．3．7 檢波二極管的檢測(cè)方法（P112）
5．3．8 雙向觸發(fā)二極管的檢測(cè)方法（P112）
5．3．9 二極管的代換方法（P115）
第6章 三極管的種類、特點(diǎn)與檢測(cè)代換方法（P122）
6．1 三極管的功能特點(diǎn)與參數(shù)識(shí)別（P122）
6．1．1 三極管的功能特點(diǎn)（P122）
6．1．2 三極管的參數(shù)識(shí)別（P127）
6．2 常見的三極管（P131）
6．2．1 小功率、中功率和大功率三極管（P131）
6．2．2 低頻三極管和高頻三極管（P131）
6．2．3 塑料封裝三極管和金屬封裝三極管（P132）
6．2．4 鍺三極管和硅三極管（P133）
6．2．5 其他類型的三極管（P133）
6．3 三極管的檢測(cè)與代換（P134）
6．3．1 NPN型三極管引腳極性的檢測(cè)判別方法（P134）
6．3．2 PNP型三極管引腳極性的檢測(cè)判別方法（P137）
6．3．3 NPN型三極管好壞的檢測(cè)方法（P140）
6．3．4 PNP型三極管好壞的檢測(cè)方法（P141）
6．3．5 三極管放大倍數(shù)的檢測(cè)方法（P142）
6．3．6 三極管特性參數(shù)的檢測(cè)方法（P145）
6．3．7 三極管交流小信號(hào)放大器波形的檢測(cè)方法（P147）
6．3．8 交流小信號(hào)放大器三極管的檢測(cè)方法（P148）
6．3．9 三極管直流電壓放大器的檢測(cè)方法（P150）
6．3．10 驅(qū)動(dòng)三極管的檢測(cè)方法（P151）
6．3．11 三極管光控照明電路的檢測(cè)方法（P152）
6．3．12 光敏三極管的檢測(cè)方法（P153）
6．3．13 三極管的代換方法（P155）
第7章 晶閘管的種類、特點(diǎn)與檢測(cè)代換方法（P158）
7．1 晶閘管的功能特點(diǎn)與參數(shù)識(shí)別（P158）
7．1．1 晶閘管的功能特點(diǎn)（P158）
7．1．2 晶閘管的參數(shù)識(shí)別（P160）
7．2 常見的晶閘管（P163）
7．2．1 單向晶閘管（P163）
7．2．2 雙向晶閘管（P165）
7．2．3 單結(jié)晶閘管（P166）
7．2．4 可關(guān)斷晶閘管（P166）
7．2．5 快速晶閘管（P167）
7．2．6 螺栓型晶閘管（P167）
7．3 晶閘管的檢測(cè)與代換（P168）
7．3．1 單向晶閘管引腳極性的檢測(cè)判別方法（P168）
7．3．2 單向晶閘管觸發(fā)能力的檢測(cè)方法（P169）
7．3．3 雙向晶閘管觸發(fā)能力的檢測(cè)方法（P171）
7．3．4 雙向晶閘管正、反向?qū)ㄌ匦缘臋z測(cè)方法（P174）
7．3．5 晶閘管的代換方法（P175）
第8章 場(chǎng)效應(yīng)晶體管的種類、特點(diǎn)與檢測(cè)代換方法（P177）
8．1 場(chǎng)效應(yīng)晶體管的功能特點(diǎn)與參數(shù)識(shí)別（P177）
8．1．1 場(chǎng)效應(yīng)晶體管的功能特點(diǎn)（P177）
8．1．2 場(chǎng)效應(yīng)晶體管的參數(shù)識(shí)別（P178）
8．2 常見的場(chǎng)效應(yīng)晶體管（P182）
8．2．1 結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)晶體管(JFET)（P182）
8．2．2 絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)晶體管(MOSFET)（P184）
8．3 場(chǎng)效應(yīng)晶體管的檢測(cè)與代換（P187）
8．3．1 搭建電路測(cè)試場(chǎng)效應(yīng)晶體管的驅(qū)動(dòng)放大特性（P187）
8．3．2 搭建電路測(cè)試場(chǎng)效應(yīng)晶體管的工作狀態(tài)（P188）
8．3．3 結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)晶體管放大能力的檢測(cè)方法（P190）
8．3．4 絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)晶體管放大能力的檢測(cè)方法（P191）
8．3．5 場(chǎng)效應(yīng)晶體管的代換方法（P192）
第9章 集成電路的種類、特點(diǎn)與檢測(cè)代換方法（P197）
9．1 集成電路的功能特點(diǎn)與參數(shù)識(shí)別（P197）
9．1．1 集成電路的功能特點(diǎn)（P197）
9．1．2 集成電路的參數(shù)識(shí)別（P198）
9．2 常見的集成電路（P204）
9．2．1 金屬殼封裝（CAN）集成電路（P204）
9．2．2 單列直插式封裝（SIP）集成電路（P204）
9．2．3 雙列直插式封裝（DIP）集成電路（P205）
9．2．4 扁平封裝（PFP、QPF）集成電路（P205）
9．2．5 插針網(wǎng)格陣列封裝（PGA）集成電路（P205）
9．2．6 球柵陣列封裝（BGA）集成電路（P206）
9．2．7 無(wú)引線塑料封裝（PLCC）集成電路（P206）
9．2．8 芯片縮放式封裝（CSP）集成電路（P207）
9．2．9 多芯片模塊封裝（MCM）集成電路（P207）
9．3 集成電路的檢測(cè)與代換（P208）
9．3．1 三端穩(wěn)壓器的檢測(cè)方法（P208）
9．3．2 運(yùn)算放大器的檢測(cè)方法（P212）
9．3．3 音頻功率放大器的檢測(cè)方法（P217）
9．3．4 微處理器的檢測(cè)方法（P221）
9．3．5 集成電路的代換方法（P227）