X射線多晶衍射數(shù)據(jù)Rietveld精修及GSAS軟件入門

定　價(jià)：￥38.60

作　者：	鄭振環(huán)，李強(qiáng) 著
出版社：	中國(guó)建材工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	計(jì)算機(jī)/網(wǎng)絡(luò) 行業(yè)軟件及應(yīng)用

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ISBN：	9787516014561	出版時(shí)間：	2016-06-01	包裝：	平裝
開(kāi)本：	16	頁(yè)數(shù)：	120	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　Rietveld法全譜擬合已成為X射線多晶衍射修正晶體結(jié)構(gòu)的重要方法。本書(shū)共分為四章，側(cè)重從操作示例介紹Rietveld法的基本原理和精修過(guò)程。第1章簡(jiǎn)要介紹Rietveld法的發(fā)展概況和基本原理。第2章介紹精修軟件EXPGUI-GSAS的安裝和使用界面。第3章介紹Rietveld法X射線多晶衍射數(shù)據(jù)的實(shí)驗(yàn)測(cè)試，并以簡(jiǎn)單例子演示EXPGUI-GSAS精修過(guò)程以及結(jié)果的提取和圖譜繪圖。第4章給出了三個(gè)提高練習(xí)示例，包括創(chuàng)建儀器參數(shù)文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《X射線多晶衍射數(shù)據(jù)Rietveld精修及GSAS軟件入門》作者簡(jiǎn)介

圖書(shū)目錄

第1章　Rietveld法結(jié)構(gòu)精修
　1.1　Rietveld法結(jié)構(gòu)精修發(fā)展概況
　1.2　Rietveld法基本原理
　1.3　參數(shù)修正順序與結(jié)果判據(jù)
　　1.3.1　參數(shù)修正的順序
　　1.3.2　精修的數(shù)值判據(jù)
　　1.3.3　精修的圖示判斷
　1.4　精修過(guò)程出現(xiàn)的問(wèn)題和對(duì)策
　1.5　Rietveld法結(jié)構(gòu)精修的應(yīng)用
　　1.5.1　修正晶體結(jié)構(gòu)
　　1.5.2　相變研究和點(diǎn)陣常數(shù)測(cè)定
　　1.5.3　物相定量分析
　　1.5.4　晶粒尺寸和微應(yīng)變測(cè)定
第2章　EXPGUI-GSAS軟件安裝與界面介紹
　2.1　GSAS軟件簡(jiǎn)介
　2.2　EXPGUI-GSAS軟件的安裝
　2.3　EXPGUI-GSAS軟件界面介紹
　　2.3.1　菜單欄
　　2.3.2　選項(xiàng)卡界面
　　2.3.3　EXPGUI幫助內(nèi)容
第3章　EXPGUI-GSAS結(jié)構(gòu)精修起步
　3.1　精修前的準(zhǔn)備工作
　　3.1.1　衍射數(shù)據(jù)的測(cè)定
　　3.1.2　衍射數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換
　　3.1.3　初始結(jié)構(gòu)的獲取
　3.2　EXPGUI精修簡(jiǎn)單示例
　　3.2.1　生成EXP文件
　　3.2.2　精修過(guò)程
　　3.2.3　常見(jiàn)問(wèn)題
　3.3　精修結(jié)果提取與繪圖
　　3.3.1　精修結(jié)果提取
　　3.3.2　精修圖譜繪圖
第4章　EXPGUI-GSAS提高練習(xí)
　4.1　儀器參數(shù)文件的建立
　　4.1.1　基本知識(shí)
　　4.1.2　操作過(guò)程
　4.2　物相（含非晶）定量分析
　　4.2.1　基本原理
　　4.2.2　衍射數(shù)據(jù)測(cè)試
　　4.2.3　精修過(guò)程
　4.3　Le Bail法擬合以及約束的使用
　　4.3.1　問(wèn)題描述
　　4.3.2　精修過(guò)程
參考文獻(xiàn)