粒子探測(cè)技術(shù)

總序前言第1章 粒子簡介1.1 構(gòu)成世界的基本粒子1.2 粒子的分類1.3 粒子的壽命1.4 重離子參考文獻(xiàn)習(xí)題第2章 粒子探測(cè)的物理基礎(chǔ)2.1 帶電粒子和物質(zhì)的相互作用2.1.1 電離和激發(fā)能量損失2.1.2 多次散射2.1.3 輻射能量損失2.1.4 切倫科夫輻射2.1.5 穿越輻射2.1.6 電磁相互作用引起的能量損失2.2 光子和物質(zhì)的相互作用2.2.1 光電效應(yīng)2.2.2 康普頓效應(yīng)2.2.3 對(duì)產(chǎn)生2.2.4 光子總截面2.2.5 電磁簇射2.3 強(qiáng)子和物質(zhì)的強(qiáng)相互作用2.3.1 強(qiáng)相互作用簡介2.3.2 中子與物質(zhì)的相互作用參考文獻(xiàn)習(xí)題第3章 粒子探測(cè)中的統(tǒng)計(jì)規(guī)律3.1 誤差基本概念3.1.1 誤差介紹3.1.2 有效數(shù)字3.1.3 粒子探測(cè)中的統(tǒng)計(jì)誤差3.1.4 算術(shù)平均值和真實(shí)值3.2 統(tǒng)計(jì)分布3.2.1 二項(xiàng)式分布3.2.2 泊松分布3.2.3 高斯分布3.3 統(tǒng)計(jì)誤差3.3.1 標(biāo)準(zhǔn)誤差3.3.2 標(biāo)準(zhǔn)誤差的物理意義3.3.3 計(jì)數(shù)的統(tǒng)計(jì)誤差3.3.4 誤差演算公式3.3.5 非等精度測(cè)量3.4 測(cè)量數(shù)據(jù)的審查3.5 計(jì)數(shù)時(shí)間或源強(qiáng)的選擇3.6 電離過程中的統(tǒng)計(jì)漲落和能量分辨率3.6.1 能量分辨率3.6.2 法諾因子修正參考文獻(xiàn)習(xí)題第4章 氣體探測(cè)器4.1 氣體探測(cè)器的測(cè)量原理4.1.1 帶電粒子在氣體中的能量損失和統(tǒng)計(jì)規(guī)律4.1.2 產(chǎn)生電子一離子對(duì)的能量4.1.3 電子和離子在氣體中的運(yùn)動(dòng)4.1.4 電荷收集過程和工作模式4.2 三種基本的氣體探測(cè)器4.2.1 電離室4.2.2 正比計(jì)數(shù)器4.2.3 G-M計(jì)數(shù)器4.3 氣體多絲室4.3.1 多絲正比室4.3.2 多絲漂移室4.3.3 時(shí)間投影室4.4 平行板電極型氣體探測(cè)器4.4.1 火花室和平行板室4.4.2 電阻板室和多氣隙電阻板4.5 微電極型氣體探測(cè)器4.5.1 微電極氣體探測(cè)器的工作原理和特性4.5.2 微電極氣體探測(cè)器的性能參數(shù)4.5.3 微電極型氣體探測(cè)器的應(yīng)用4.5.4 氣體探測(cè)器的工作壽命參考文獻(xiàn)習(xí)題第5章 半導(dǎo)體探測(cè)器5.1 半導(dǎo)體探測(cè)器的工作原理5.1.1 半導(dǎo)體的基本知識(shí)5.1.2 PN結(jié)5.1.3 半導(dǎo)體探測(cè)器的工作原理5.2 半導(dǎo)體探測(cè)器的種類5.2.1 PN結(jié)型半導(dǎo)體探測(cè)器5.2.2 鋰漂移型半導(dǎo)體探測(cè)器5.2.3 高純鍺半導(dǎo)體探測(cè)器5.2.4 全耗盡型半導(dǎo)體探測(cè)器5.2.5 化合物半導(dǎo)體探測(cè)器5.2.6 特殊類型的半導(dǎo)體探測(cè)器5.3 徑跡測(cè)量的半導(dǎo)體探測(cè)器5.3.1 硅微條探測(cè)器5.3.2 電荷耦合器件5.3.3 硅像素探測(cè)器5.3.4 硅漂移探測(cè)器5.4 半導(dǎo)體探測(cè)器的主要參數(shù)5.4.1 窗厚5.4.2 靈敏區(qū)厚度5.4.3 結(jié)電容5.4.4 正反向電流特性5.4.5 能量分辨率和線性5.4.6 位置分辨5.4.7 脈沖波形和上升時(shí)間5.4.8 輻照效應(yīng)5.4.9 信號(hào)讀出與電荷靈敏放大器5.5 半導(dǎo)體探測(cè)器的應(yīng)用5.5.1 在高能物理中的應(yīng)用5.5.2 在空間物理和宇宙線實(shí)驗(yàn)中的應(yīng)用5.5.3 在核醫(yī)學(xué)中的應(yīng)用參考文獻(xiàn)思考題習(xí)題第6章 閃爍探測(cè)器第7章 切倫科夫計(jì)數(shù)器與穿越輻射探測(cè)器第8章 粒子探測(cè)系統(tǒng)附錄