電子系統(tǒng)測試原理

定　價：￥39.00

作　者：	（美）莫瑞達、等
出版社：	機械工業(yè)
叢編項：	電子與電氣工程叢書
標　簽：	電子技術(shù)

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ISBN：	9787111198086	出版時間：	2007-01-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	296	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書全面闡述了電子系統(tǒng)測試原理，共分為五個部分，第1部分介紹本書的目的、電子產(chǎn)品的缺陷種類、VLSI設(shè)計表示與設(shè)計流程；第H部分介紹故障模擬、測試碼產(chǎn)生及電流測試方法；第111部分討論易測性設(shè)計問題，分別介紹專用技術(shù)、路徑掃描設(shè)計、邊界掃描測試和內(nèi)建自測試技術(shù)；第1V部分介紹特殊結(jié)構(gòu)的測試，包括存儲器、FPGA和微處理器的測試；第V部分涉及當(dāng)前電子系統(tǒng)測試領(lǐng)域中的前沿問題，包括如何實現(xiàn)易測試性結(jié)構(gòu)和進行SOC測試。.本書可作為電子信息類專業(yè)研究生教材和IC測試工程技術(shù)人員的參考書。隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展，電子系統(tǒng)測試面臨越來越大的挑戰(zhàn)：研究更精確的故障模型，在高層設(shè)計上檢查易測試性，在綜合過程中嵌入更有效的測試結(jié)構(gòu)等。本書詳細介紹了測試的基本原理和很多必需的基礎(chǔ)知識，來面對這些挑戰(zhàn)。..本書涉及開發(fā)可靠電子產(chǎn)品的非常實用的設(shè)計和測試知識，講解設(shè)計驗證的主要手段，有助于測試的設(shè)計檢查；研究了如何將測試應(yīng)用于隨機邏輯。存儲器，F(xiàn)PGA和微處理器。最后，提供了針對深亞微型設(shè)計的高級測試解決方案。讀者可以通過本書深入理解測試的基本原理，并掌握眾多解決方案。本書的主要內(nèi)容包括：●解釋了測試在設(shè)計中的作用。●詳細討論了掃描路徑和掃描鏈的次序。●針對嵌入式邏輯和存儲器塊的BIST解決方案?！襻槍PGA的測試方法。●芯片系統(tǒng)的測試。...

作者簡介

　　本書提供作譯者介紹Samiha Mourad博士是加利福尼亞圣克拉拉大學(xué)電子工程系教授。Yervant Zorian博士是加利福尼亞圣何塞Logic Vision公司的首席技術(shù)顧問。...

圖書目錄

第1部分設(shè)計與測試
第1章測試綜述
1. 1 可靠性與測試
1. 2 設(shè)計過程
1. 3 驗證
1. 4 測試
1. 5 故障及其檢測
1. 6 測試碼生成
1. 7 故障覆蓋率
1. 8 測試類型
1. 9 測試應(yīng)用
1. 10 易測試性設(shè)計
1. 11 測試經(jīng)濟
1. 12 進一步研究
參考文獻
習(xí)題
第2章缺陷. 失效和故障
2. 1 簡介
2. 2 物理缺陷
2. 3 故障模式
2. 4 故障
2. 5 固定型故障
2. 6 故障列表
2. 7 橋接故障
2. 8 短路和開路故障
2. 9 時延故障
2. 10 暫時失效
2. 11 噪聲失效
參考文獻
習(xí)題
第3章設(shè)計表示
3. 1 抽象級
3. 2 數(shù)學(xué)方程
3. 3 列表格式
3. 4 圖形表示
3. 5 圖
3. 6 二叉判斷圖
3. 7 網(wǎng)表
3. 8 硬件描述語言
參考文獻
習(xí)題
第4章 VLSI設(shè)計流程
4. 1 簡介
4. 2 CAD工具
4. 3 算法
4. 4 綜合
4. 5 設(shè)計方法
4. 6 半定制設(shè)計
4. 7 物理設(shè)計
參考文獻
習(xí)題
第11部分測試流程
第5章測試中模擬的角色
5. 1 簡介
5. 2 大型設(shè)計的模擬
5. 3 邏輯模擬
5. 4 模擬方法
5. 5 時間模型
5. 6 故障模擬
5. 7 故障模擬結(jié)果
參考文獻
習(xí)題
第6章自動測試碼生成
6. 1 簡介
6. 2 術(shù)語和符號
6. 3 D算法
6. 4 臨界路徑
6. 5 回溯和扇出重匯聚
6. 6 PODEM
6. 7 其他算法
6. 8 時序電路測試
參考文獻
習(xí)題
第7章電流測試
7. 1 簡介
7. 2 基本概念
7. 3 無故障電流
7. 4 電流感應(yīng)技術(shù)
7. 5 故障檢測
7. 6 測試碼生成
7. 7 深亞微級技術(shù)的影響
參考文獻
習(xí)題
第III部分易測試性設(shè)計..
第8章專用技術(shù)
8. 1 簡介
8. 2 DFT的內(nèi)容
8. 3 易測試性分析
8. 4 初始化及測試點
8. 5 易測試性劃分
8. 6 易測試的電路
參考文獻
習(xí)題
第9章路徑掃描設(shè)計
9. 1 簡介
9. 2 路徑掃描設(shè)計
9. 3 測試碼產(chǎn)生
9. 4 測試碼應(yīng)用
9. 5 路徑掃描設(shè)計的例子
9. 6 存儲設(shè)備
9. 7 掃描結(jié)構(gòu)
9. 8 多級掃描鏈
9. 9 路徑掃描設(shè)計的代價
9. 10 部分掃描測試
9. 11 調(diào)整掃描鏈上的觸發(fā)器
參考文獻
習(xí)題
第10章邊界掃描測試
10. 1 簡介
10. 2 傳統(tǒng)電路板測試
10. 3 邊界掃描體系結(jié)構(gòu)
10. 4 測試訪問端口
10. 5 寄存器
10. 6 TAP控制器
10. 7 操作模式
10. 8 邊界掃描語言
10. 9 邊界掃描設(shè)計的代價
10. 10 進一步研究
參考文獻
習(xí)題
第11章內(nèi)建自測試
11. 1 簡介
11. 2 偽隨機測試碼生成
11. 3 響應(yīng)壓縮
11. 4 抗隨機碼故障
11. 5 BIST結(jié)構(gòu)
參考文獻
習(xí)題
第IV部分特殊結(jié)構(gòu)
第12章存儲器測試
12. 1 動機
12. 2 存儲器模型
12. 3 缺陷和故障模型
12. 4 存儲器測試類型
12. 5 功能測試方案
12. 6 存儲器BIST
12. 7 存儲器診斷與維修
參考文獻
習(xí)題
第13章 FPGA與微處理器的測試
13. 1 簡介
13. 2 FPGA
13. 3 FPGA的易測試性
13. 4 基于RAM的FPGA的測試
13. 5 微處理器
13. 6 微處理器的測試
13. 7 現(xiàn)代微處理器中的DFT特性
參考文獻
習(xí)題
第V部分高級論題
第14章易測試性綜合
14. 1 簡介
14. 2 易測試性相關(guān)內(nèi)容
14. 3 綜合回顧
14. 4 高級綜合
14. 5 測試綜合方法
參考文獻
習(xí)題
第15章 SOC測試
15. 1 簡介
15. 2 核的分類
15. 3 設(shè)計與測試流程
15. 4 內(nèi)核測試需求
15. 5 測試體系結(jié)構(gòu)的概念
15. 6 測試策略
15. 7 進一步研究
參考文獻
習(xí)題
附錄A 參考書目
附錄B 縮寫詞表