介質諧振器的微波測量

　　本書在作者多年從事介質諧振器及其測試方法研究的基礎上編著而成。全書共4章，主要內容包括介質諧振器、高介微波陶瓷及其基本應用，截止開腔中的介質諧振測量技術，截止閉腔中的介質諧振測量技術，耳語坑道模介質諧振測量技術，腔外微擾測量原理與技術，微波頻率低端的諧振測量技術，微波下三次交叉調制失真率的測量等。本書所介紹的利用介質自身諧振的測量技術和介質自身無須諧振的測量技術，是新型電子元器件、通信部件、非金屬材料諸領域的研究、開發(fā)、應用中必不可少的重要手段和技術。 本書可供從事電子-材料領域、通信-信息領域和電介質物理研究的科研、教學、開發(fā)、應用、測試和計量等工作的科技人員及大專院校有關師生參考。 前言 本書主要反映我們從事介質諧振器方面的研究及所取得的成果，并對相關文獻報道的研究成果進行了總結。其涉及材料、應用和測試三個方面。由于涉及的面廣、內容豐富，且材料、應用方面都有不少論文、專著，故本書只著重敘述測試方法與技術方面。為了使讀者對介質諧振器有一個較全面的了解，書中也極其扼要地介紹了什么是介質諧振器，以及當今常用的高介微波陶瓷、介質諧振器的組合和基本應用等。本書所介紹的測試方法主要是針對中、低損耗的高介微波材料，也稱介質諧振器材料。由于被測的介質樣品通常就是一個諧振子，所以它又稱介質諧振器。書中將文獻報道的絕大部分測量方法歸結為截止空腔中的介質自身諧振測量技術，而將我們創(chuàng)立的介質自身無須諧振的方法稱腔外微擾測量技術。腔外微擾法目前已達到能用同一樣品、同一腔體在8．2～40GHz的離散頻率下獲得介電譜。此外，由于介質本身沒有諧振，故腔外微擾法也同時適合于測量較大損耗甚至大損耗的介質。這個測試系統(tǒng)已開始應用。最后，書中還介紹了一些經改進后可沿用的還能方便地施加直流偏壓的方法。因此，可以說本書是對《材料科學中的介電譜技術》（科學出版社，1999）一書中有關頻域測量技術的補充和發(fā)展。 眾所周知，信息功能陶瓷的微波響應能作為闡明材料的微結構、缺陷等與宏觀性能關系的重要依據，也為新型電子元器件、通信部件等方面提供設計參數。由于新材料的相繼問世和現有材料的不斷改進、電子-信息系統(tǒng)的飛速發(fā)展，研究和創(chuàng)新材料微波性能評價技術與系統(tǒng)也在不斷取得新的成果。作者期望，本書的問世將為電介質物理學、電子材料及通信-信息的基礎研究再提供一些人們便于采用的手段和技術，也為材料電磁學參數測試方法的進一步研究提供一些思路，以期共同促進實現微小型、輕便、穩(wěn)定、安全可靠的微波系統(tǒng)及其模塊化、多功能化，以幫助和帶動微波集成向大面積發(fā)展，最終走上全面集成化。 在本書撰寫過程中曾得到浙江大學、解放軍總裝備部、惠州市、惠州學院和桂林電子工業(yè)學院等有關部門的研究經費資助，以及有關領導的全力支持和同事的大力合作；得到浙江大學的朱永花副教授、王艷華老師，杭州中國計量學院的徐江峰副教授，惠州學院的方振逵副教授、劉曉莉老師、凌家良老師、羅萍老師，以及桂林電子工業(yè)學院敖發(fā)良教授、李思敏教授、姜興副教授的幫助和支持。在此，對上述部門、單位、領導、同事和朋友致以衷心感謝！ 倪爾瑚 2005年10月

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