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幾何量公差與檢測

幾何量公差與檢測

定　價：￥30.00

作　者： 甘永立主編
出版社： 上海科學(xué)技術(shù)出版社
叢編項：
標(biāo)　簽： 機(jī)械元件
ISBN： 9787532374625 出版時間： 2004-01-01 包裝： 平裝
開本： 26cm 頁數(shù)： 306頁 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡介

　　該書共12章，分別講述了幾何量測量基礎(chǔ)，孔、軸公差與配合，形狀和位置公差與檢測，表面粗糙度輪廓及其檢測，滾動軸承的公差與配合等內(nèi)容。

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