計算機輔助測試技術(shù)導(dǎo)論

定　價：￥14.00

作　者：	劉鳳新等編著
出版社：	電子工業(yè)出版社
叢編項：	高等學(xué)校電子信息科學(xué)與工程類專業(yè)教材
標　簽：	暫缺

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ISBN：	9787505396111	出版時間：	2004-02-01	包裝：	平裝
開本：	23cm	頁數(shù)：	140	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　隨著電子技術(shù)、通令技術(shù)、計算機技術(shù)的飛速發(fā)展，各種測試技術(shù)也得到了飛速的發(fā)展。在計算機控制下的測試過程變得更加的高效、簡捷、靈活。這種計算機控制下對各種電量和非電量進行測量、數(shù)據(jù)處理、設(shè)備控制以及結(jié)果輸出的系統(tǒng)稱為自動測試系統(tǒng)。所采用的技術(shù)稱為計算機輔助測試技術(shù)（簡稱CAT）。本書主要介紹了構(gòu)成自動測試系統(tǒng)的相關(guān)內(nèi)容，有兩大部分組成。第一部分內(nèi)容主要包括通用接口總線（GPIB）分析，儀器通用總線接口設(shè)計，進而介紹如何用帶GPIB的儀器構(gòu)成自動測試系統(tǒng)。第二部分內(nèi)容重點討論計算機對模擬電路的控制與測試，以模擬集成電路測試系統(tǒng)TM7為例，主要討論了自動測試系統(tǒng)的硬件層次結(jié)構(gòu)，測試儀的接口及控制，測試儀高級測試語言，適配器原理，測試系統(tǒng)軟件設(shè)計等內(nèi)容。本書還對USB總線及VXI技術(shù)做了簡單的介紹。本書內(nèi)容新穎，實用性強，可作為計算機硬件、檢測與儀表、電子信息工程等相關(guān)專業(yè)大學(xué)本科高年級學(xué)生的選修課或研究生教材，也可供相關(guān)領(lǐng)域的工程技術(shù)人員參考。

作者簡介

暫缺《計算機輔助測試技術(shù)導(dǎo)論》作者簡介

圖書目錄

第一部分用現(xiàn)有儀器構(gòu)成自動測試系統(tǒng)
第1章自動測試系統(tǒng)概述
  1.1 自動測試系統(tǒng)的組成
  1.2 自動測試系統(tǒng)的分類
  1.3 現(xiàn)代自動測試系統(tǒng)的特點
第2章通用接口總線概述
  2.1 概述
  2.2 接口基本性能及儀器功能
  2.3 總線結(jié)構(gòu)
  2.4 接口基本特性
第3章通用接口總線協(xié)議編碼
  3.1 信息分類
  3.2 接口信息及編碼
  3.3 設(shè)備信息及編碼
第4章接口功能
  4.1 清除功能（DC）
  4.2 設(shè)備觸發(fā)功能（DT）
  4.3 聽功能（L）
  4.4 講功能（T）
  4.5 源功能（SH）
  4.6 受功能（AH）
  4.7 服務(wù)請求功能（SR）
  4.8 遠程/本地功能（RL）
  4.9 控者功能（C）
第5章 USB及虛擬儀器
  5.1 USB總線協(xié)議簡介
  5.2 基本結(jié)構(gòu)簡介
  5.3 USB協(xié)議總覽
  5.4 連接特性
  5.5 VXI概念
第二部分模擬集成電路測試系統(tǒng)
第6章 CAT概述及TM7簡介
  6.1 CAT概述
  6.2 TM7簡介
第7章測試語言簡介
  7.1 BASIC語法定義
  7.2 TBASIC命令
  7.3 TBASIC的語句
  7.4 測試用的新增函數(shù)
  7.5 其他語句組
  7.6 數(shù)字測試擴展語句
  7.7 如何使用TBASIC7
  7.8 測試語言的深層次討論
第8章 TM7的硬件
  8.1 TM7的硬件系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
  8.2 硬件的層次結(jié)構(gòu)（三層結(jié)構(gòu)）
  8.3 TM7的接口控制電路的幾個問題
  8.4 TM7的數(shù)字電路
  8.5 模擬電路
第9章基本種類IC的測試
  9.1 運算放大器的測試
  9.2 集成三端穩(wěn)壓器的測試
  9.3 DAC的測試
  9.4 ADC的測試及適配器的工作原理
第10章測試儀系統(tǒng)軟件的開發(fā)及儀器自檢和校準
  10.1 系統(tǒng)軟件的結(jié)構(gòu)
  10.2 自檢原理及算法
  10.3 校準
  10.4 TM7的校準和模擬量自檢方法
  附錄A TBASIC命令表
  附錄B 函數(shù)表
  附錄C 測試語句表
  附錄D TBASIC錯誤信息表
英文縮略詞英漢對照表
參考文獻